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Europäisches Patentamt

Temperaturkompensation einer strukturierten Lichtprojektion

Patentnummer:DE102016214826B4
IPC Hauptklasse:G01B001125
Anmelder:ifm electronic gmbh (0)
45128, Essen, DE
Erfinder:
Anmeldung:10.08.16
Offenlegung:10.08.15
Patenterteilung:09.11.17

Abstract / Hauptanspruch
Anordnung zur Projektion eines geometrischen Musters,
mit einem Oberflächenemitter (10),
und mit einem Gitter als diffraktives optisches Element (DOE),
wobei sich der Ausdehnungskoeffizient (α) des diffraktiven optischen Elements (DOE) ausgehend von dem Wellenlängendriftkoeffizienten (δ) des Oberflächenemitters und einer vorgegebenen Wellenlänge (λ 0) für eine Referenztemperatur über die Relation: α = δλ₀ berechnet,
und der Ausdehnungskoeffizient (α) des diffraktiven optischen Elements (DOE) und der Wellenlängendriftkoeffizienten (δ) Oberflächenemitter derart aufeinander abgestimmt sind, dass die temperaturabhängige Winkeländerung (Δφ) eines Beugungsmaxima einer projizierten Struktur unterhalb eines vorgegebenen Grenzwertes (Δφmax) bleibt,
wobei der Grenzwert (Δφmax) durch eine maximal zu tolerierenden Entfernungsabweichung bestimmt wird.

DE102016214826B4


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