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Europäisches Patentamt

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING THE THICKNESS OF A MEASUREMENT OBJECT | VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR DICKENMESSUNG EINES MESSOBJEKTS | DISPOSITIF ET PROCÉDÉ POUR MESURER L'ÉPAISSEUR D'UN OBJET À MESURER

Patentnummer:EP2697600B1
IPC Hauptklasse:G01B000506
Anmelder:
Erfinder:Kirschner, Gerhard (0)
94036, Passau, DE
Sonntag, Achim (0)
94113, Tiefenbach, DE
Anmeldung:27.03.12
Offenlegung:15.04.11
Patenterteilung:01.11.17

Abstract / Hauptanspruch
Eine Vorrichtung zur Dickenmessung eines, vorzugsweise bahnförmigen oder stückgutförmigen, Messobjekts in einem Messspalt mit einer an einem Maschinenrahmen angebrachten Messmechanik, wobei die Messmechanik zur Dickenmessung einen oder mehrere auf das Messobjekt gerichtete Wegmesssensor(en) umfasst, ist dadurch gekennzeichnet, dass ein an einen Wegmesssensor gekoppelter Kompensationssensor zur Erfassung und Kompensation einer Veränderung des Messspalts den Abstand zu einem Referenzlineal misst, dass das Referenzlineal als eine Seite einer in die Messmechanik integrierten rahmenförmigen Referenzeinrichtung ausgeführt ist, und dass die Referenzeinrichtung derart ausgestaltet ist, dass während der Dickenmessung der Abstand zwischen dem Referenzlineal und der dem Referenzlineal gegenüberliegende Seite der Referenzeinrichtung bekannt ist. Des Weiteren ist ein entsprechendes Verfahren zur Dickenmessung angegeben.

An apparatus for measuring the thickness of a measurement object, preferably a measurement object in the form of a web or piece goods, in a measuring gap, with a measuring mechanism which is fitted to a machine frame, wherein the measuring mechanism for measuring the thickness comprises one or more travel measurement sensor(s) aimed at the measurement object, is characterized in that a compensation sensor which is coupled to a travel measurement sensor measures the distance to a reference rule in order to detect and compensate for a change in the measuring gap, in that the reference rule is in the form of a side of a frame-shaped reference device integrated in the measuring mechanism, and in that the reference device is configured in such a manner that the distance between the reference rule and that side of the reference device which is opposite the reference rule is known during the thickness measurement. A corresponding method for measuring the thickness is also stated.

L'invention concerne un dispositif pour mesurer l'épaisseur d'un objet à mesurer, de préférence sous forme de bande ou sous forme d'élément isolé, dans une fente de mesure, comportant un mécanisme de mesure qui est monté sur un bâti et qui comprend un ou plusieurs capteurs de déplacement dirigé(s) sur l'objet à mesurer pour réaliser la mesure d'épaisseur. Ce dispositif est caractérisé en ce qu'un capteur de compensation, servant à détecter et compenser une variation de la fente de mesure et couplé à un capteur de déplacement, mesure la distance par rapport à une règle de référence; la règle de référence se présente sous la forme d'un côté d'un dispositif de référence en forme de cadre intégré au mécanisme de mesure; et ce dispositif de référence est conçu de sorte que, pendant la mesure d'épaisseur, la distance entre la règle de référence et le côté du dispositif de référence, opposé à la règle de référence, est connue. L'invention concerne en outre un procédé de mesure d'épaisseur correspondant.

EP2697600B1


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