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Europäisches Patentamt

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING FLATNESS OF PLATE MATERIAL | VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR MESSUNG DER FLACHHEIT EINES PLATTENMATERIALS | PROCÉDÉ ET DISPOSITIF POUR MESURER LA PLANÉITÉ D'UNE PLAQUE DE MATÉRIAU

Patentnummer:EP2998695B1
IPC Hauptklasse:G01B001125
Anmelder:
Erfinder:
Anmeldung:14.05.14
Offenlegung:14.05.13
Patenterteilung:08.11.17

Abstract / Hauptanspruch
A method for measuring flatness of a sheet includes a step of acquiring a pattern image by projecting a light and dark pattern composed of light portions and dark portions onto a surface of the sheet, which is traveling between adjacent rolling stands, from a projection unit situated between the rolling stands, and capturing an image of the light and dark pattern with an image capture unit situated between the rolling stands, and a step of measuring the flatness by analyzing the acquired pattern image. Arrangement parameters L 0, α, β, hc and hp satisfy the following mathematical expression (1). 0.75L0≤tanα+tanβ1/hC−1/hP≤1.5L0

L'invention concerne un procédé conçu pour mesurer la planéité d'une plaque de matériau. Ce procédé comporte une étape consistant à projeter un motif en clair et en sombre, composé de parties claires et de parties sombres, sur une surface d'une plaque de matériau se déplaçant entre des supports à galets adjacents. Cette projection est réalisée par un projecteur situé entre les supports à galets. Cette même étape consiste enfin à capturer une image du motif en clair et en sombre au moyen d'une unité de capture d'image située entre les supports à galets, de façon à acquérir une image du motif. Le procédé comporte également une autre étape consistant à analyser l'image du motif acquise, de façon à mesurer la planéité de la plaque de matériau, les relations entre L 0, α, β, hc, et hp étant définies par l'expression (1) suivante.

EP2998695B1


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