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Europäisches Patentamt

Projection aided feature measurement using uncalibrated camera | Mesure des fonctions assistées par projection utilisant une caméra non étalonnée | Projektionsunterstützte Funktionsmessung mit Verwendung einer unkalibrierten Kamera

Patentnummer:EP2554940B1
IPC Hauptklasse:G01B001100
Anmelder:
Erfinder:
Anmeldung:20.07.12
Offenlegung:03.08.11
Patenterteilung:04.10.17

Abstract / Hauptanspruch
A method of measuring a feature of an article may include projecting a scale template onto the article at a predetermined size. The method may additionally include projecting a measurement pattern onto the article. An image containing the feature, the scale template, and the measurement pattern may be recorded by the camera. The method may further include determining a scale factor of the image based on the scale template, and determining a size and/or a location of the feature based upon the measurement pattern and the image scale factor.

EP2554940B1


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