patentverein.de - Patente
Patentethik
Überwachung
Beispielhaft
Trivial
Kurios
Unverständlich
Zurück Original-Dokument
Europäisches Patentamt

PANTOGRAPH MEASUREMENT METHOD, AND PANTOGRAPH MEASUREMENT DEVICE | PROCÉDÉ DE MESURE DE PANTOGRAPHE ET DISPOSITIF DE MESURE À STRUCTURE DE PANTOGRAPHE | STROMABNEHMERMESSVERFAHREN UND STROMABNEHMERMESSVORRICHTUNG

Patentnummer:EP2821747B1
IPC Hauptklasse:G01B001100
Anmelder:Meidensha Corporation (0)
1-1, Osaki 2-chome; Shinagawa-ku, Tokyo 141-0032, JP
Erfinder:
Anmeldung:18.02.13
Offenlegung:29.02.12
Patenterteilung:25.10.17

Abstract / Hauptanspruch
A pantograph measurement method by means of image processing comprising a process (S1) for acquiring a video image of a marker (50) disposed on a pantograph (40) and for generating a space-time image from the acquired video, and a process (S2) for searching for the marker (50) by comparing the search patterns in accordance with the height of the space-time image, wherein: the marker (50) has a stripe pattern in which a first region (51) that cannot easily reflect light and a second region (52) that can easily reflect light are alternately disposed, at least two second regions (52) are disposed, and the stripe width of the second regions are different from one another; and the search pattern corresponds to the stripe pattern of the marker.

La présente invention concerne un procédé de mesure de pantographe au moyen d'un traitement d'image faisant appel à un traitement (S1) d'acquisition d'une image vidéo d'un marqueur (50) disposé sur un pantographe (40) et de génération d'une image spatio-temporelle à partir de la vidéo acquise, et à un traitement (S2) de recherche du marqueur (50) par comparaison des motifs de recherche conformément à la hauteur de l'image spatio-temporelle. Selon l'invention, le marqueur (50) a un motif de bande dans lequel une première région (51) qui ne peut pas réfléchir facilement la lumière et une seconde région (52) qui peut facilement réfléchir la lumière sont disposées en alternance, au moins deux secondes régions (52) sont disposées, et les largeurs de bande des secondes régions sont différentes les unes des autres ; et le motif de recherche correspond au motif de bande du marqueur.

EP2821747B1


Kommentare zu diesem Patent schicken Sie bitte an .