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Europäisches Patentamt

METHOD OF CALIBRATING A SCANNIG SYSTEM | VERFAHREN ZUM KALIBRIEREN EINES SCANNIG-SYSTEMS | PROCEDE D'ETALONNAGE D'UN SYSTEME DE BALAYAGE

Patentnummer:EP1535026B1
IPC Hauptklasse:G01B002100
Anmelder:
Erfinder:MCFARLAND, Geoffrey (0)
The Manse; 22 Church Road; Upper Cam; Dursley, Gloucestershire GL11 5PG, GB
MCMURTRY, David (0)
Roberts, Park Farm Stancombe; Dursley, Gloucestershire GL11 6AT, GB
Anmeldung:04.07.03
Offenlegung:04.07.02
Patenterteilung:27.09.17

Abstract / Hauptanspruch
A method of measuring an object on a coordinate positioning apparatus. A first object is placed on a coordinate positioning apparatus and measured with a workpiece contacting probe to create measurement data. The measurement data is collected at multiple stylus deflections or probe forces. For a plurality of points on the surface on the first object, the measurement data is extrapolated to that corresponding to zero stylus deflection or zero probe force. An error function or map is created from the measurement data and the extrapolated data. Subsequent objects are then measured using a known stylus deflection or known probe force and the error function or map is used to apply an error correction to these measurements.

L'invention concerne un procédé permettant de mesurer un objet disposé sur un appareil de positionnement par coordonnées. Un premier objet est placé sur un appareil de positionnement par coordonnées et est mesuré au moyen d'une sonde de contact de pièce d'usinage pour créer des données de mesure. Ces données de mesure sont collectées pour plusieurs déviations de palpeur ou forces de sonde. Lesdites données de mesure sont extrapolées pour une pluralité de points sur la surface dudit premier objet, afin d'obtenir les données correspondant à une déviation de palpeur nulle ou une force de sonde nulle. Une application ou une fonction d'erreur est créée à partir des données de mesure et des données extrapolées. D'autres objets sont ensuite mesurés au moyen d'une déviation de palpeur connue ou d'une force de sonde connue, et l'application ou la fonction d'erreur est utilisée pour appliquer une correction d'erreur auxdites mesures.

EP1535026B1


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