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Anmelder = JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
DE102015106920B4
30.05.18 (41)
Kalibrierkörper und Wellenmessgerät für Schattenprojektionsverfahren
JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH
EP2662662B1
18.07.18 (90)
Device and method for measuring shape, position and dimension features of machine elements | Vorrichtung und Verfahren zum Messen von Form-, Lage- und Dimensionsmerkmalen an Maschinenelementen | Dispositif et procédé de mesure de caractéristiques de forme, de position et de dimension sur des éléments de machine
JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH
DE102017108960B3
11.10.18 (174)
Konturmessgerät
JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH
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