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Anmelder = JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
DE102017108960B3
11.10.18 (22)
Konturmessgerät
JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH
DE102017107373B4
25.04.19 (220)
Oberflächenmessgerät
JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH
DE102017107372B4
25.04.19 (220)
Oberflächenmessgerät
JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH
DE102017107972B4
09.05.19 (235)
Verfahren zum Betreiben eines Oberflächenmessgerätes
JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH
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