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Anmelder = Kulite Semiconductor Products Inc., Leonia


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
US9952067B2
24.04.18 (191)
Systems and methods for optical measurements using multiple beam interferometric sensors
Kulite Semiconductor Products Inc., Leonia
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