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Anmelder = Industrial Technology Research Institute, Hsinchu


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
US9835449B2
05.12.17 (48)
Surface measuring device and method thereof
Industrial Technology Research Institute, Hsinchu
US9970880B2
15.05.18 (211)
Apparatus for measuring a curvature of a thin film and the method thereof
Industrial Technology Research Institute, Hsinchu
US9970754B2
15.05.18 (211)
Surface measurement device and method thereof
Industrial Technology Research Institute, Hsinchu
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