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Anmelder = NEC Corporation


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
US10088299B2
02.10.18 (68)
Optical measurement element for alignment in wafer-level testing and method for aligning an optical probe using the same
NEC Corporation
US10190992B2
29.01.19 (187)
Structure status determination device, status determination system, and status determination method
NEC Corporation
EP3136047B1
30.01.19 (188)
POSITION AND ATTITUDE ESTIMATION DEVICE, IMAGE PROCESSING DEVICE, AND POSITION AND ATTITUDE ESTIMATION METHOD | POSITIONS- UND LAGESCHÄTZVORRICHTUNG, BILDVERARBEITUNGSVORRICHTUNG SOWIE POSITIONS- UND LAGESCHÄTZVERFAHREN | DISPOSITIF D'ESTIMATION DE POSITION ET D'ORIENTATION, DISPOSITIF DE TRAITEMENT D'IMAGE, ET PROCÉDÉ D'ESTIMATION DE POSITION ET D'ORIENTATION
NEC Corporation
US10197502B2
05.02.19 (194)
Information processing device, information processing method and medium
NEC Corporation
US10205912B2
12.02.19 (201)
Biological imaging device and biological imaging method
NEC Corporation
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