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Anmelder = General Electric Company, Schenectady


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
EP3173730B1
26.09.18 (7)
GAP MEASURING DEVICE | SPALTMESSVORRICHTUNG | DISPOSITIF DE MESURE D'ÉCART
General Electric Company, Schenectady
US10126248B2
13.11.18 (55)
System and method for surface inspection
General Electric Company, Schenectady
US10126119B2
13.11.18 (55)
Methods of forming a passive strain indicator on a preexisting component
General Electric Company, Schenectady
US10126117B1
13.11.18 (55)
System and method for diffuser hole inspection
General Electric Company, Schenectady
US10132615B2
20.11.18 (62)
Data acquisition devices, systems and method for analyzing passive strain indicators and monitoring turbine component strain
General Electric Company, Schenectady
US10161910B2
25.12.18 (98)
Methods of non-destructive testing and ultrasonic inspection of composite materials
General Electric Company, Schenectady
EP3001139B1
06.02.19 (140)
SYSTEM AND METHOD OF MEASURING GEOMETRIC CHARACTERISTICS OF AN OBJECT | SYSTEM UND VERFAHREN ZUR MESSUNG GEOMETRISCHER EIGENSCHAFTEN EINES OBJEKTS | SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE MESURE DE CARACTÉRISTIQUES GÉOMÉTRIQUES D'UN OBJET
General Electric Company, Schenectady
US10203415B2
12.02.19 (146)
Methods for topology and automatic neighborhood detection in lighting system
General Electric Company, Schenectady
EP2947421B1
08.05.19 (234)
SYSTEM AND METHOD FOR MECHANICAL RUNOUT MEASUREMENT | VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM MESSEN DER MECHANISCHEN UNRUNDHEIT | DISPOSITIF ET PROCÉDÉ POUR MESURER L'EXCENTRICITÉ MÉCANIQUE
General Electric Company, Schenectady
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