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Anmelder = Micro-Epsilon Messtechnik GmbH & Co. KG


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
EP2600100B1
10.01.18 (49)
Device and method for measuring the distance or thickness of an object | Vorrichtung und ein Verfahren zur Abstands- oder Dickenmessung eines Objekts | Dispositif et procédé de mesure de la distance ou de l'épaisseur d'un objet
Micro-Epsilon Messtechnik GmbH & Co. KG
EP2359097B1
28.02.18 (98)
SENSOR ARRANGEMENT AND METHOD FOR DETERMINING THE POSITION AND/OR CHANGE IN POSITION OF A MEASUREMENT OBJECT | SENSORANORDNUNG UND VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG DER POSITION UND/ODER POSITIONSÄNDERUNG EINES MESSOBJEKTS | ENSEMBLE CAPTEUR ET PROCÉDÉ POUR DÉTERMINER LA POSITION ET/OU LE CHANGEMENT DE POSITION D'UN OBJET DE MESURE
Micro-Epsilon Messtechnik GmbH & Co. KG
EP2516966B1
18.04.18 (149)
SENSOR WHEREIN THE SENSING ELEMENT IS PART OF THE HOUSING | SENSOR BEI WELCHEM DAS SENSORELEMENT TEIL DES SENSORGEHAÜSES IST | CAPTEUR DANS LEQUEL L'ÉLÉMENT SENSIBLE FAIT PARTIE DU BOÎTIER
Micro-Epsilon Messtechnik GmbH & Co. KG
EP1754018B1
11.07.18 (232)
DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING THE INTERNAL SURFACES OF HOLES | VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM PRÜFEN VON OBERFLÄCHEN IM INNEREN VON LÖCHERN | DISPOSITIF ET PROCEDE DE VERIFICATION DE SURFACES SITUEES A L'INTERIEUR DE TROUS
Micro-Epsilon Messtechnik GmbH & Co. KG
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