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Anmelder = RENISHAW PLC, Wotton-Under-Edge


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
US9829300B2
28.11.17 (9)
Gauge artefact and method for checking a coordinate positioning machine
RENISHAW PLC, Wotton-Under-Edge
US9841300B2
12.12.17 (24)
Measurement scale with periodic nanostructure
RENISHAW PLC, Wotton-Under-Edge
US9863766B2
09.01.18 (51)
Calibration of a contact probe
RENISHAW PLC, Wotton-Under-Edge
US9903713B2
27.02.18 (100)
Method of controlling a coordinate positioning machine
RENISHAW PLC, Wotton-Under-Edge
US9945697B2
17.04.18 (151)
Measurement scale with periodic nanostructure
RENISHAW PLC, Wotton-Under-Edge
US9952068B2
24.04.18 (158)
Optical element
RENISHAW PLC, Wotton-Under-Edge
US9952028B2
24.04.18 (158)
Method of finding a feature using a machine tool
RENISHAW PLC, Wotton-Under-Edge
EP2259897B1
02.05.18 (167)
SURFACE SENSING DEVICE | OBERFLÄCHENMESSEINRICHTUNG | DISPOSITIF DE DÉTECTION DE SURFACE
RENISHAW PLC, Wotton-Under-Edge
US9989347B2
05.06.18 (198)
Method and apparatus for inspecting workpieces
RENISHAW PLC, Wotton-Under-Edge
EP2269006B1
06.06.18 (199)
METROLOGICAL SCALE | MESSSKALA | ECHELLE MÉTROLOGIQUE
RENISHAW PLC, Wotton-Under-Edge
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