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Anmelder = Breitmeier Messtechnik GmbH


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
EP3108204B1
12.07.17 (86)
METHOD FOR TEMPORARILY LOCKING A MICROSTRUCTURE AND/OR ROUGHNESS MEASURING DEVICE, MICROSTRUCTURE AND/OR ROUGHNESS MEASURING DEVICE FOR CARRYING OUT THE METHOD, AND ASSEMBLY OF A MICROSTRUCTURE AND/OR ROUGHNESS MEASURING DEVICE AND A MEASUREMENT OBJECT | VERFAHREN ZUR TEMPORÄREN ARRETIERUNG EINES MIKROSTRUKTUR- UND/ODER RAUHEITSMESSGERÄTS, MIKROSTRUKTUR- UND/ODER RAUHEITSMESSGERÄT ZUR DURCHFÜHRUNG DES VERFAHRENS SOWIE ANORDNUNG EINES MIKROSTRUKTUR- UND/ODER RAUHEITSMESSGERÄTS UND EINES MESSOBJEKTS | PROCÉDÉ DE BLOCAGE TEMPORAIRE D'UN APPAREIL DE MESURE DE RUGOSITÉ ET/OU DE MICROSTRUCTURES, APPAREIL DE MESURE DE RUGOSITÉ ET/OU DE MICROSTRUCTURES POUR LA MISE EN OEUVRE DU PROCÉDÉ ET SYSTÈME COMPOSÉ D'UN APPAREIL DE MESURE DE RUGOSITÉ ET/OU DE MICROSTRUCTURES ET D'UN OBJET DE MESURE
Breitmeier Messtechnik GmbH