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Anmelder = JTEKT Corporation


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
EP2306170B1
07.03.18 (16)
JIG AND METHOD FOR MEASURING RUNOUT OF FLANGE SURFACES OF HUB UNIT | SCHABLONE UND VERFAHREN ZUR MESSUNG VON UNRUNDHEITEN VON FLANSCHOBERFLÄCHEN EINER NABENEINHEIT | GABARIT ET PROCÉDÉ DE MESURE DU FAUX-ROND DES SURFACES DE FLASQUE D'UNE UNITÉ DE MOYEU
JTEKT Corporation
EP2559971B1
21.03.18 (30)
ROTATION ANGLE DETECTION DEVICE | ROTATIONSWINKELERKENNUNGSVORRICHTUNG | DISPOSITIF DE DÉTECTION D'ANGLE DE ROTATION
JTEKT Corporation
EP3029424B1
18.04.18 (58)
ROTATION ANGLE DETECTION DEVICE | ROTATIONSWINKELERKENNUNGSVORRICHTUNG | DISPOSITIF DE DETECTION D'ANGLE DE ROTATION
JTEKT Corporation
EP3109599B1
20.06.18 (119)
ROTATION ANGLE DETECTION DEVICE | ROTATIONSWINKELERKENNUNGSVORRICHTUNG | DISPOSITIF DE DÉTECTION D'ANGLE DE ROTATION
JTEKT Corporation
EP2472232B1
10.10.18 (231)
ROTATION ANGLE DETECTION DEVICE | ROTATIONSWINKELERKENNUNGSVORRICHTUNG | DISPOSITIF DÉTECTION D'ANGLE DE ROTATION
JTEKT Corporation
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