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Anmelder = Mitutoyo Corporation


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
US9482509B2
01.11.16 (6)
Ergonomic micrometer including two modes of adjustment
Mitutoyo Corporation
US9486889B2
08.11.16 (13)
Tolerance detection method and tolerance detection device for shape measuring apparatus
Mitutoyo Corporation
EP1975556B1
09.11.16 (14)
Global calibration for stereo vision probe | Globale Kalibrierung für Stereovisionssonde | Étalonnage global pour sonde à vision stéréo
Mitutoyo Corporation
EP3012591B1
09.11.16 (14)
OPTICAL ENCODER | OPTISCHER CODIERER | ENCODEUR OPTIQUE
Mitutoyo Corporation
EP2910895B1
09.11.16 (14)
Coordinate measuring machine and method for calculating correction matrix by coordinate measuring machine | Koordinatenmessmaschine und Verfahren zur Berechnung einer Korrekturmatrix mit der Koordinatenmessmaschine | Machine de mesure de coordonnées et procédé de calcul de matrice de correction par machine de mesure de coordonnées
Mitutoyo Corporation
EP2889586B1
09.11.16 (14)
Optical encoder | Optischer Codierer | Encodeur optique
Mitutoyo Corporation
EP2803948B1
16.11.16 (21)
Reference signal generation apparatus and reference signal generation system | Referenzsignalerzeugungsvorrichtung und Referenzsignalerzeugungssystem | Appareil et système de génération de signal de référence
Mitutoyo Corporation
EP2642243B1
16.11.16 (21)
Surface texture measuring machine and a surface texture measuring method | Oberflächentexturmessmaschine und Oberflächentexturmessverfahren | Machine de mesure de la texture d'une surface et procédé de mesure de la texture d'une surface
Mitutoyo Corporation
EP2410288B1
16.11.16 (21)
Method for cleaning the skid of a surface roughness tester | Verfahren zum Reinigen des Schlittens eines Oberflächenrauheitstesters | Procédé de nettoyage du chariot d'un testeur de rugosité de surface
Mitutoyo Corporation
EP1022539B1
16.11.16 (21)
Analog quantity measuring method for a cylinder gauge | Analogmessverfahren einer Grösse für ein Zylindermessinstrument | Procédé de mesure analogique d'une quantité pour une jauge de cylindre
Mitutoyo Corporation
US9500474B2
22.11.16 (27)
Illumination apparatus, illumination method, measuring apparatus, and measuring method
Mitutoyo Corporation
EP2674730B1
23.11.16 (28)
Optical encoder and lens fixing mechanism thereof | Optischer Kodierer und Linsenbefestigungsmechanismus dafür | Codeur optique et mécanisme de fixation de lentille
Mitutoyo Corporation
US9506778B2
29.11.16 (34)
Linear encoder
Mitutoyo Corporation
EP1477775B1
07.12.16 (43)
Photoelectric encoder | Lagegeber mit fotoelektrischer Detektion | Codeur de position avec détection photoélectrique
Mitutoyo Corporation
US9518811B2
13.12.16 (49)
Form measuring machine
Mitutoyo Corporation
EP2538180B1
14.12.16 (50)
Structure for protecting scale graduations | Struktur zum Schutz von Skaleneinteilungen | Structure de protection de graduation d'échelle
Mitutoyo Corporation
US9528824B2
27.12.16 (63)
Tactile probing system
Mitutoyo Corporation
US9534936B2
03.01.17 (69)
Reference signal generation apparatus and reference signal generation system
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
EP1762816B1
18.01.17 (84)
Digital measuring instrument | Digitales Messinstrument | Instrument de mesure numérique
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
US9551595B2
24.01.17 (90)
Induction detecting type rotary encoder
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
US9557193B2
31.01.17 (97)
Optical encoder
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!