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Anmelder = Mitutoyo Corporation


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
US10006757B1
26.06.18 (6)
Optical configuration for measurement device using emitter material configuration with quadrant photodetectors
Mitutoyo Corporation
EP2667147B1
04.07.18 (15)
Interchangeable optics configuration for a chromatic range sensor optical pen | Austauschbare Optikkonfiguration für einen Lesestift eines Sensors mit chromatischem Bereich | Configuration optique interchangeable pour stylo optique à capteur de variation chromatique
Mitutoyo Corporation
EP2687821B1
11.07.18 (22)
Encoder | Codierer | Codeur
Mitutoyo Corporation
US10024658B2
17.07.18 (28)
CMM moving path adjustment assisting method and apparatus
Mitutoyo Corporation
US10024695B2
17.07.18 (28)
Optical encoder comprising an origin point detection scale having an origin point detection pattern
Mitutoyo Corporation
US10030998B2
24.07.18 (35)
Displacement detecting device by light retroreflectance having first and second retroreflecting units with a common light receiving unit
Mitutoyo Corporation
US10030970B2
24.07.18 (35)
Image measuring apparatus and measuring apparatus
Mitutoyo Corporation
EP3141873B1
25.07.18 (36)
ENCODER | CODIERER | CODEUR
Mitutoyo Corporation
US10041815B2
07.08.18 (48)
Photoelectric encoder having a two-level code pattern using three or more bit-combination patterns
Mitutoyo Corporation
EP2535686B1
08.08.18 (49)
Optical encoder including displacement sensing normal to the encoder scale grating surface | Optischer Codierer mit Verlagerungserkennung senkrecht zu Gitteroberfläche der Codiererskala | Codeur optique comprenant une détection de déplacement normale à la surface du réseau d'échelle de codeur
Mitutoyo Corporation
US10055849B2
21.08.18 (62)
Image measurement device and controlling method of the same
Mitutoyo Corporation
US10060727B2
28.08.18 (69)
Internal diameter measuring method for transparent tube
Mitutoyo Corporation
US10066922B2
04.09.18 (76)
Manual measuring system
Mitutoyo Corporation
EP3287740B1
05.09.18 (77)
COORDINATE CORRECTION METHOD AND COORDINATE MEASURING MACHINE | KOORDINATENKORREKTURVERFAHREN UND KOORDINATENMESSMASCHINE | PROCÉDÉ DE CORRECTION DE COORDONNÉES ET MACHINE DE MESURE DE COORDONNÉES
Mitutoyo Corporation
EP1696202B1
05.09.18 (77)
Straightness correcting method for surface texture measuring instrument | Verfahren zum Geradheitskorrektur einer Oberflächentexturmesseinrichtung | Procédé de correction de rectitude pour un instrument de mesure de la texture d'une surface
Mitutoyo Corporation
EP3124923B1
12.09.18 (84)
DISPLACEMENT DETECTING DEVICE | VERSCHIEBUNGSERKENNUNGSVORRICHTUNG | DISPOSITIF DE DÉTECTION DE DÉPLACEMENT
Mitutoyo Corporation
US10077991B2
18.09.18 (90)
Optical encoder configured to mitigate undesired interfering light components
Mitutoyo Corporation
EP3124924B1
19.09.18 (91)
DISPLACEMENT DETECTING DEVICE | VERSCHIEBUNGSERKENNUNGSVORRICHTUNG | DISPOSITIF DE DÉTECTION DE DÉPLACEMENT
Mitutoyo Corporation
EP2202480B1
19.09.18 (91)
Extended range focus detection apparatus | Fokuserkennungsvorrichtung mit erweiterter Reichweite | Appareil de détection de mise au point de gamme étendue
Mitutoyo Corporation
EP1480013B1
19.09.18 (91)
Data transmitting / receiving method and device for encoder | Daten-Übertragungs / Empfangsverfahren und Vorrichtung für einen Messwertgeber | Procédé de transmission / réception de données et appareil associé pour codeur
Mitutoyo Corporation
EP1475603B1
19.09.18 (91)
Calibration method for a surface texture measuring instrument and said instrument | Kalibrationsverfahren für eine Vorrichtung zur Messung der Oberflächentextur und genannte Vorrichtung | Procédé de calibration pour un instrument pour mesurer la texture d'une surface et ledit instrument
Mitutoyo Corporation
US10088341B2
02.10.18 (104)
Photoelectric encoder
Mitutoyo Corporation
US10088340B2
02.10.18 (104)
Telecentric photoelectric encoder including aperture in face of optical element
Mitutoyo Corporation
US10094685B2
09.10.18 (111)
Displacement encoder
Mitutoyo Corporation
US10094656B2
09.10.18 (111)
Chromatic confocal sensor and measurement method
Mitutoyo Corporation
US10101181B1
16.10.18 (118)
Linear displacement sensor using a position sensitive detector
Mitutoyo Corporation
US10101141B2
16.10.18 (118)
Trigger counter for measurement device with count values stored in flash memory
Mitutoyo Corporation
DE102013217475B4
18.10.18 (120)
SYSTEM UND VERFAHREN ZUM EINSTELLEN VON MESSKRAFTSCHWELLEN IN EINEM KRAFTMESSENDEN MESSSCHIEBER
Mitutoyo Corporation
EP2629063B1
24.10.18 (126)
Photoelectric encoder | Fotoelektrischer Kodierer | Codeur photoélectrique
Mitutoyo Corporation
DE10037979B4
25.10.18 (127)
Optischer Kodierer
Mitutoyo Corporation
US10113851B2
30.10.18 (132)
Probe head rotating mechanism
Mitutoyo Corporation
US10113931B2
30.10.18 (132)
Probe measuring force adjuster
Mitutoyo Corporation
US10119844B2
06.11.18 (139)
Scale for an absolute position detection type photoelectric encoder with three or more two-bit combination patterns are used to represent a two-level code pattern
Mitutoyo Corporation
EP3101380B1
07.11.18 (140)
METHOD FOR CONTROLLING SHAPE MEASURING APPARATUS | VERFAHREN ZUR STEUERUNG EINER MESSVORRICHTUNG ZUM BESTIMMEN EINER FORM | PROCÉDÉ DE COMMANDE D'APPAREIL DE MESURE DE FORME
Mitutoyo Corporation
EP2693162B1
07.11.18 (140)
Organic electroluminescent dot-matrix display for a measuring instrument | Organisches elektrolumineszierendes Dot-Matrix Display für ein Messinstrument | Display électroluminescent organique du type dot-matrix pour un instrument de mesure
Mitutoyo Corporation
EP2503325B1
21.11.18 (154)
Edge location measurement correction for coaxial light images | Kantenpositionsmesskorrektur für koaxiale Lichtbilder | Correction de mesures de localisation de bord pour des images de lumière coaxiale
Mitutoyo Corporation
US10145666B2
04.12.18 (168)
Touch probe for CMM including digital signal communication
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
EP3182054B1
05.12.18 (169)
OPTICAL CONFIGURATION FOR MEASUREMENT DEVICE | OPTISCHE KONFIGURATION FÜR EINE MESSVORRICHTUNG | CONFIGURATION OPTIQUE POUR DISPOSITIF DE MESURE
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
EP2447663B1
05.12.18 (169)
Interference objective lens unit with temperature variation compensation and light-interference measuring apparatus using thereof | Interferenzobjektivlinseneinheit und Lichtinterferenzmessungsvorrichtung damit | Unité de lentille d'objectif d'interférence et appareil de mesure d'interférence lumineuse l'utilisant
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
EP2653838B1
19.12.18 (183)
Multiple wavelength configuration for an optical encoder readhead | Konfiguration mit mehreren Wellenlänge für einen optischen Codierlesekopf | Configuration de longueurs d'onde multiples pour une lecture de codeur optique
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
EP2554949B1
19.12.18 (183)
Electromagnetic induction type absolute position measuring encoder | Elektromagnetischer Induktions-Absolutpositionierungs-Mess-Codierer | Codeur de mesure de position absolu de type à induction électromagnétique
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
US10162041B2
25.12.18 (189)
Measurement system using tracking-type laser interferometer and return method of the measurement system
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
US10161747B2
25.12.18 (189)
Surface texture measuring apparatus and method
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
US10161743B2
25.12.18 (189)
Measuring probe and measuring probe system
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
EP3141874B1
26.12.18 (190)
ABSOLUTE POSITION DETECTION TYPE PHOTOELECTRIC ENCODER | PHOTOELEKTRISCHER CODIERER VOM ABSOLUTPOSITIONSDETEKTIONSTYP | ENCODEUR PHOTOÉLECTRIQUE DE TYPE À DÉTECTION DE POSITION ABSOLUE
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
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