patentverein.de - Patente
Patentethik
Überwachung
Beispielhaft
Trivial
Kurios
Unverständlich

Anmelder = Mitutoyo Corporation


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
US10060727B2
28.08.18 (7)
Internal diameter measuring method for transparent tube
Mitutoyo Corporation
US10066922B2
04.09.18 (14)
Manual measuring system
Mitutoyo Corporation
EP3287740B1
05.09.18 (15)
COORDINATE CORRECTION METHOD AND COORDINATE MEASURING MACHINE | KOORDINATENKORREKTURVERFAHREN UND KOORDINATENMESSMASCHINE | PROCÉDÉ DE CORRECTION DE COORDONNÉES ET MACHINE DE MESURE DE COORDONNÉES
Mitutoyo Corporation
EP1696202B1
05.09.18 (15)
Straightness correcting method for surface texture measuring instrument | Verfahren zum Geradheitskorrektur einer Oberflächentexturmesseinrichtung | Procédé de correction de rectitude pour un instrument de mesure de la texture d'une surface
Mitutoyo Corporation
EP3124923B1
12.09.18 (22)
DISPLACEMENT DETECTING DEVICE | VERSCHIEBUNGSERKENNUNGSVORRICHTUNG | DISPOSITIF DE DÉTECTION DE DÉPLACEMENT
Mitutoyo Corporation
US10077991B2
18.09.18 (28)
Optical encoder configured to mitigate undesired interfering light components
Mitutoyo Corporation
EP3124924B1
19.09.18 (29)
DISPLACEMENT DETECTING DEVICE | VERSCHIEBUNGSERKENNUNGSVORRICHTUNG | DISPOSITIF DE DÉTECTION DE DÉPLACEMENT
Mitutoyo Corporation
EP2202480B1
19.09.18 (29)
Extended range focus detection apparatus | Fokuserkennungsvorrichtung mit erweiterter Reichweite | Appareil de détection de mise au point de gamme étendue
Mitutoyo Corporation
EP1480013B1
19.09.18 (29)
Data transmitting / receiving method and device for encoder | Daten-Übertragungs / Empfangsverfahren und Vorrichtung für einen Messwertgeber | Procédé de transmission / réception de données et appareil associé pour codeur
Mitutoyo Corporation
EP1475603B1
19.09.18 (29)
Calibration method for a surface texture measuring instrument and said instrument | Kalibrationsverfahren für eine Vorrichtung zur Messung der Oberflächentextur und genannte Vorrichtung | Procédé de calibration pour un instrument pour mesurer la texture d'une surface et ledit instrument
Mitutoyo Corporation
US10088341B2
02.10.18 (42)
Photoelectric encoder
Mitutoyo Corporation
US10088340B2
02.10.18 (42)
Telecentric photoelectric encoder including aperture in face of optical element
Mitutoyo Corporation
US10094685B2
09.10.18 (49)
Displacement encoder
Mitutoyo Corporation
US10094656B2
09.10.18 (49)
Chromatic confocal sensor and measurement method
Mitutoyo Corporation
US10101181B1
16.10.18 (56)
Linear displacement sensor using a position sensitive detector
Mitutoyo Corporation
US10101141B2
16.10.18 (56)
Trigger counter for measurement device with count values stored in flash memory
Mitutoyo Corporation
DE102013217475B4
18.10.18 (58)
SYSTEM UND VERFAHREN ZUM EINSTELLEN VON MESSKRAFTSCHWELLEN IN EINEM KRAFTMESSENDEN MESSSCHIEBER
Mitutoyo Corporation
EP2629063B1
24.10.18 (64)
Photoelectric encoder | Fotoelektrischer Kodierer | Codeur photoélectrique
Mitutoyo Corporation
DE10037979B4
25.10.18 (65)
Optischer Kodierer
Mitutoyo Corporation
US10113851B2
30.10.18 (70)
Probe head rotating mechanism
Mitutoyo Corporation
US10113931B2
30.10.18 (70)
Probe measuring force adjuster
Mitutoyo Corporation
US10119844B2
06.11.18 (77)
Scale for an absolute position detection type photoelectric encoder with three or more two-bit combination patterns are used to represent a two-level code pattern
Mitutoyo Corporation
EP3101380B1
07.11.18 (78)
METHOD FOR CONTROLLING SHAPE MEASURING APPARATUS | VERFAHREN ZUR STEUERUNG EINER MESSVORRICHTUNG ZUM BESTIMMEN EINER FORM | PROCÉDÉ DE COMMANDE D'APPAREIL DE MESURE DE FORME
Mitutoyo Corporation
EP2693162B1
07.11.18 (78)
Organic electroluminescent dot-matrix display for a measuring instrument | Organisches elektrolumineszierendes Dot-Matrix Display für ein Messinstrument | Display électroluminescent organique du type dot-matrix pour un instrument de mesure
Mitutoyo Corporation
EP2503325B1
21.11.18 (92)
Edge location measurement correction for coaxial light images | Kantenpositionsmesskorrektur für koaxiale Lichtbilder | Correction de mesures de localisation de bord pour des images de lumière coaxiale
Mitutoyo Corporation
US10145666B2
04.12.18 (106)
Touch probe for CMM including digital signal communication
Mitutoyo Corporation
EP3182054B1
05.12.18 (107)
OPTICAL CONFIGURATION FOR MEASUREMENT DEVICE | OPTISCHE KONFIGURATION FÜR EINE MESSVORRICHTUNG | CONFIGURATION OPTIQUE POUR DISPOSITIF DE MESURE
Mitutoyo Corporation
EP2447663B1
05.12.18 (107)
Interference objective lens unit with temperature variation compensation and light-interference measuring apparatus using thereof | Interferenzobjektivlinseneinheit und Lichtinterferenzmessungsvorrichtung damit | Unité de lentille d'objectif d'interférence et appareil de mesure d'interférence lumineuse l'utilisant
Mitutoyo Corporation
EP2653838B1
19.12.18 (121)
Multiple wavelength configuration for an optical encoder readhead | Konfiguration mit mehreren Wellenlänge für einen optischen Codierlesekopf | Configuration de longueurs d'onde multiples pour une lecture de codeur optique
Mitutoyo Corporation
EP2554949B1
19.12.18 (121)
Electromagnetic induction type absolute position measuring encoder | Elektromagnetischer Induktions-Absolutpositionierungs-Mess-Codierer | Codeur de mesure de position absolu de type à induction électromagnétique
Mitutoyo Corporation
US10162041B2
25.12.18 (127)
Measurement system using tracking-type laser interferometer and return method of the measurement system
Mitutoyo Corporation
US10161747B2
25.12.18 (127)
Surface texture measuring apparatus and method
Mitutoyo Corporation
US10161743B2
25.12.18 (127)
Measuring probe and measuring probe system
Mitutoyo Corporation
EP3141874B1
26.12.18 (128)
ABSOLUTE POSITION DETECTION TYPE PHOTOELECTRIC ENCODER | PHOTOELEKTRISCHER CODIERER VOM ABSOLUTPOSITIONSDETEKTIONSTYP | ENCODEUR PHOTOÉLECTRIQUE DE TYPE À DÉTECTION DE POSITION ABSOLUE
Mitutoyo Corporation
US10168189B1
01.01.19 (133)
Contamination and defect resistant optical encoder configuration for providing displacement signal having a plurality of spatial phase detectors arranged in a spatial phase sequence along a direction transverse to the measuring axis
Mitutoyo Corporation
EP3026400B1
02.01.19 (134)
OPTICAL ENCODER | OPTISCHER CODIERER | ENCODEUR OPTIQUE
Mitutoyo Corporation
EP2733455B1
02.01.19 (134)
Spherical-form measuring apparatus | Kugelformmessvorrichtung | Appareil de mesure de forme sphérique
Mitutoyo Corporation
EP2259014B1
09.01.19 (141)
Alignment adjusting mechanism and measuring instrument | Ausrichtungsanpassungsmechanismus und Messinstrument | Mécanisme d'ajustement de l'alignement et instrument de mesure
Mitutoyo Corporation
EP2843357B1
16.01.19 (148)
Determining the centre of a V-Groove | Ermittlung des Zentrums einer V-Nut | Déterminer le centre d'une rainure en V
Mitutoyo Corporation
US10184810B2
22.01.19 (154)
Encoder having light-receiving unit that includes light-receiving element array
Mitutoyo Corporation
US10184773B2
22.01.19 (154)
Sensor signal offset compensation system for a CMM touch probe
Mitutoyo Corporation
US10190893B2
29.01.19 (161)
Encoder
Mitutoyo Corporation
US10190892B2
29.01.19 (161)
Encoder
Mitutoyo Corporation
DE10238268B4
31.01.19 (163)
An einen Ausgang angeschlossenes Messgerät
Mitutoyo Corporation
US10197375B2
05.02.19 (168)
Probe head of three-dimensional coordinate measuring device and touch detection method
Mitutoyo Corporation
US10197374B2
05.02.19 (168)
Measuring apparatus
Mitutoyo Corporation
EP2722644B1
06.02.19 (169)
Surface roughness measuring unit and coordinate measuring apparatus | Rauheitsmessungseinheit und Koordinatenmessgerät | Module de mesure de la rugosité et appareil de mesure de coordonnées
Mitutoyo Corporation
US10203190B2
12.02.19 (175)
Measuring device
Mitutoyo Corporation
US10215547B2
26.02.19 (189)
Method for operating a coordinate measuring machine
Mitutoyo Corporation
EP2573507B1
27.02.19 (190)
Precision stage interferometer system with air duct | Interferometersystem mit Luftleitung für feinmechanische Trägerplatte | Système interférométrique avec manche à air pour dispositif porte-objet de précision
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
DE10115288B4
28.02.19 (191)
Messvorrichtung für Oberflächenstrukturen und Messverfahren für Oberflächenstrukturen
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
EP2570776B1
13.03.19 (206)
Inductive Detection Encoder and Digital Micrometer | Induktiver Erkennungskodierer und digitales Mikrometer | Codeur de détection inductive et micromètre numérique
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
DE102014218642B4
14.03.19 (207)
Verfahren zum Betreiben einer Koordinatenmessvorrichtung
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
US10234310B2
19.03.19 (212)
Light-emitting unit, light-emitting and light-receiving unit and photoelectric encoder
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
EP3182052B1
20.03.19 (213)
MEASUREMENT DEVICE WITH MULTIPLEXED POSITION SIGNALS | MESSVORRICHTUNG MIT GEMULTIPLEXTEN POSITIONSSIGNALEN | DISPOSITIF DE MESURE AVEC SIGNAUX DE POSITION MULTIPLEXÉS
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
DE102014222056B4
21.03.19 (214)
Optische Anordnung für strukturierte Beleuchtungsmikroskopie mit Projektionsartefakt-Unterdrückungselement
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
EP3336484B1
27.03.19 (220)
TOUCH PROBE FOR CMM INCLUDING DIGITAL SIGNAL COMMUNICATION | TASTKOPF FÜR KOORDINATENMESSMASCHINE MIT DIGITALSIGNALKOMMUNIKATION | SONDE DE CONTACT POUR UNE MACHINE DE MESURE DE COORDONNÉES COMPRENANT UNE COMMUNICATION DE SIGNAUX NUMÉRIQUES
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
Datenschutzerklärung