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Anmelder = Metal Industries Research & Development Centre, Kaohsiung


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
US9891428B2
13.02.18 (53)
Optical measurement system, measurement method for errors of rotating platform, and two dimensional sine wave annulus grating
Metal Industries Research & Development Centre, Kaohsiung
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