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Anmelder = Brodmann Technologies GmbH


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
US10180316B2
15.01.19 (147)
Method and device for the contactless assessment of the surface quality of a wafer
Brodmann Technologies GmbH
EP3023737B1
27.03.19 (220)
METHOD FOR CONTACTLESS SURFACE MEASUREMENT WITH MEASUREMENT CORRECTION | VERFAHREN ZUR BERÜHRUNGSLOSEN OBERFLÄCHENMESSUNG MIT MESSKORREKTUR | PROCÉDÉ DE MESURE DE SURFACE SANS CONTACT AVEC CORRECTION DE MESURE
Brodmann Technologies GmbH
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