Anmelder = Brodmann Technologies GmbH

Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift Erteilung (Frist)		Anmelder Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
	US10180316B2 15.01.19 (147)	Method and device for the contactless assessment of the surface quality of a wafer Brodmann Technologies GmbH
	EP3023737B1 27.03.19 (220)	METHOD FOR CONTACTLESS SURFACE MEASUREMENT WITH MEASUREMENT CORRECTION | VERFAHREN ZUR BERÜHRUNGSLOSEN OBERFLÄCHENMESSUNG MIT MESSKORREKTUR | PROCÉDÉ DE MESURE DE SURFACE SANS CONTACT AVEC CORRECTION DE MESURE Brodmann Technologies GmbH