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Anmelder = NATIONAL SUN YAT-SEN UNIVERSITY, Kaohsiung


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
US9958262B2
01.05.18 (73)
System for measuring three-dimensional profile of transparent object or refractive index by fringe projection
NATIONAL SUN YAT-SEN UNIVERSITY, Kaohsiung
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