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Anmelder = NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY, Hsinchu


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
US9952034B2
24.04.18 (66)
Optical interferometric system for measurement of a full-field thickness of a plate-like object in real time
NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY, Hsinchu
US10006761B2
26.06.18 (127)
Method and system for on-line real-time measuring the surface topography and out-of plane deformation by using phase-shifting shadow moiré method
NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY, Hsinchu
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