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Patentethik
Überwachung
Beispielhaft
Trivial
Kurios
Unverständlich

Anmelder = Unity Semiconductor, 38330 Montbonnot-Saint-Martin


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
EP2888551B1
17.10.18 (28)
DEVICE AND METHOD FOR DIMENSIONAL MEASUREMENTS ON MULTILAYER OBJECTS LIKE WAFERS | VORRICHTUNG UND METHODE FÜR DIMENSIONSMESSUNGEN AN VIELSCHICHT-OBJEKTEN WIE WAFERN | DISPOSITIF ET PROCEDE POUR FAIRE DES MESURES DIMENSIONNELLES SUR DES OBJETS MULTI-COUCHES TELS QUE DES WAFERS
Unity Semiconductor, 38330 Montbonnot-Saint-Martin
EP2140252B1
21.11.18 (63)
METHOD FOR DETECTING SURFACE DEFECTS ON A SUBSTRATE AND DEVICE USING SAID METHOD | VERFAHREN ZUM NACHWEIS VON OBERFLÄCHENDEFEKTEN AUF EINEM SUBSTRAT UND VORRICHTUNG UNTER VERWENDUNG DES VERFAHRENS | PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE DÉFAUTS DE SURFACE SUR UN SUBSTRAT ET DISPOSITIF UTILISANT LEDIT PROCÉDÉ
Unity Semiconductor, 38330 Montbonnot-Saint-Martin
EP2888552B1
03.04.19 (198)
METHOD AND DEVICE FOR CONTROLLABLY REVEALING STRUCTURES BURIED IN OBJECTS SUCH AS WAFERS | VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR KONTROLLIERTEN AUFDECKUNG VON IN ARTIKELN WIE WAFERN ENTHALTENEN STRUKTUREN | PROCEDE ET DISPOSITIF POUR CONTROLER LA REVELATION DE STRUCTURES ENTERREES SUR DES OBJETS TELS QUE DES WAFERS
Unity Semiconductor, 38330 Montbonnot-Saint-Martin
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