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Anmelder = Nikon Metrology NV, 3001 Heverlee


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
EP2954286B1
11.04.18 (178)
ARTEFACT FOR EVALUATING THE PERFORMANCE OF AN X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY SYSTEM | KALIBRIERUNGSARTEFAKT FÜR RÖNTGEN-COMPUTERTOMOGRAPHIESYSTEM | ARTÉFACT D'ÉTALONNAGE POUR SYSTÈME DE TOMOGRAPHIE ASSISTÉE PAR ORDINATEUR À RAYONS X
Nikon Metrology NV, 3001 Heverlee
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